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IR-2双波段发射率测试仪

产品详情

中国科学院技术物理所研制的IR-2双波段发射率测试仪采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3~5um、8~14um、1~22um三个波段发射率。对特殊需要的用户,通过专用的控温加热装置,在常温至300温度范围加热样品,进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。此仪器以日本JAPAN SENSOR CORPORATION远红外检测仪为参考,误差±0.03。

仪器特点:

1.仪器中有小型标准黑体辐射源,采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk),使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围,而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。

2.采用了独特的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。

3.在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探测通道外,还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道,从而确保了仪器的测量精度。

4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测,进一步提高了仪器性能。

5.本仪器操作简单、使用方便、测量快速。

6.可按需更换滤光片,在多个红外光谱波段内进行测试。

7.在测量过程中不损伤被测样品。

8.本仪器带RS-232串口及复位键RST。

主要技术指标 

1.测量波段:3~5um、8~14um、1~22um  

(若用户有特殊要求,可定制不同波段滤光片)

2.发射率测量范围:0.01~0.99

3.灵敏度NEε:0.001

4.示值误差:±0.02 (ε>0.50)

5.重复性:±0.01

6.样品温度:常温(特殊用户为常温~300)

7.样品尺寸:>Ф50

8.测量时间:3秒后按测量键E,即显示ε测量值。

9.显示方法:LED数字显示,末位0.001

10. 电   源:  交流220V   50HZ