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IR-2双波段发射率测量仪

产品详情



主要用途

1.军用武器装备红外隐身材料的研究测试。

2.红外烘烤高发射涂层材料的研究测试。

3.建筑材料、保温材料及涂层材料及纸张等红外发射率的研究测试。

4.纺织行业掺杂红外材料保温纺织品的发射率研究测试。

5.有关研究部门对红外辐射特性进行测量研究。

 

工作原理和特点

1.本仪器的设计采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而计算出待测物表面在特定红外波段吸收率σ。根据基尔霍夫定律,物体吸收率在数值上与其发射率相等,即σ=ε,从而测出被测物体红外波段法向发射率εN。

2.设计了专用小型标准黑体辐射源,并采用六位高精度黑体控温仪(能显示到1mk),极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。

3.在测量光路设计中,采用了独特的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。

4.考虑到样品漫反射引起的测量误差,在仪器设计中,除镜反射(MR)探测通道外,还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道,从而确保了仪器的测量精度。

5.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测,进一步提高了仪器性能。

6.用二块发射率已知的参考样板(一块为镀铝低发射率参考板,一块为铜中发射率参考板)在常温下对仪器进行校正,并用高发射率的水进行复核(因为水在可见光透明,在红外波段的发射率高达0.97) 从而确保了仪器的测量精度。

7.本仪器带RS-232串口,每按一次测量键E,就发送一次数据,起始位标志AA。

 

技术指标

1.测量波段:1~22μm  3~5μm  8~14μm

(若用户有特殊要求,可定制不同波段滤光片)

2.发射率测量范围:0.1~0.99

3.灵敏度NE△ε:0.001

4.示值误差:±0.02 (ε>0.50)

5.重复性:±0.01

6.样品温度:常温(特殊用户为常温~600℃)

7.样品尺寸:φ≤35 mm

8.测量时间:3秒后按轻触开关E,即显示ε测量值。

9.显示方法:LED数字显示,末位0.001

10.电源:交流220V  50HZ